本文介绍了MOS管导通电压的基本概念、导通条件以及导通与漏电流的关系。导通电压是决定MOS管能否正常工作的关键因素，通常与阈值电压和漏极-源极电压有关。

本文主要探讨了MOSFET导通电阻的测试方法，包括传统方法、进阶技巧和创新方案。传统方法简单，但精度受限；进阶技巧消除了接触电阻影响，但需要额外测量；创新方案则利用ATE设备实现自动化，提高了精度。

MOS管、NPN/PNP三极管各有独特工作原理，MOS管通过电压控制电流，三极管通过电流驱动，共同构成电子电路的核心元件。

本文解析了MOS管体内寄生二极管的结构、导通机制及应用场景，强调其在电路保护与性能中的关键作用。

同步整流技术通过低Ron MOSFET提升DC/DC变换器效率，导通电阻影响损耗与发热，需兼顾静态与动态性能。

温度升高导致MOS管导通电阻显著增加，涉及载流子迁移率下降、材料退化及驱动条件影响，影响器件性能与可靠性。

N沟道耗尽型MOS管在制造中通过离子注入，在“出厂”即导通，是芯片制造中独特的“天生导体”技术。

N沟道MOS管DS压降受VGS、VDS及温度影响，优化策略包括合理选型、热管理与反接保护，提升效率与可靠性。