调试开关电源或追求高速切换时，你可曾留意那一串数据手册中的“Vgs(th)”？它不仅是n沟道增强型MOS管导通的起点，更决定了全局效率与驱动策略

在竞争日益激烈的电机驱动领域，效率已成为制胜关键。伴随对轻量化、高速化和高动态响应需求的爆发，如何在性能与损耗之间找到最佳平衡？

当我们构建现代电子系统时，MOS管不仅是一个微小的电子开关，更是一套极限参数的集合体：它能承受多高的电压？能输出多大的电流？

在电子设计的星图中，MOS管是那颗指引方向的北极星。我们熟悉N沟道的世界：电子奔流，正电压开启。但当你转向它的镜像——P沟道耗尽型MOS管，一个核心参数却总带来困惑

你是否也遇到MOS管突然发热、结温飙升，手忙脚乱却摸不清原因？数据显示，在实际电源设计中，高达30%的失效案例都与输出电流异常有关。

MOS管是电压控制器件，通过vGS调控iD，共源放大器利用饱和区实现电压放大，增益与负载、偏置相关。

文章总结：MOS管功放通过导通角分类（甲乙丙类）平衡效率与失真，不同类别的效率与线性度各有优势，需根据应用场景灵活选择。

MOS管VGS负压由电感反向电动势、寄生电容充放电和驱动波形过冲引起，危害包括误导通、栅极氧化层损伤及效率下降，对策包括钳位、驱动优化、滤波屏蔽和专用驱动芯片。

VMOS功率场效应管通过V形槽和垂直导电结构，实现高耐压、低电阻，提升效率与可靠性。

文章介绍了使用万用表定性测试MOS管好坏的全流程，包括防静电、档位选择、定性测试及人体感应原理，提供简单可靠的方法。