MOSFET的输入阻抗高，输出阻抗低，受寄生电容影响高频时阻抗下降，影响电路性能。

MOS管发热源于导通电阻和开关损耗，需优化驱动和选择低RDSON器件以减缓温度上升。

功率MOS管故障表现为异常发热、运行不稳定及完全失效，需及时排查以避免设备损坏。

高压高频MOS管凭借高电压、高速开关、低损耗等特性，广泛应用于电源转换、工业控制及汽车电子等领域，提升能效与性能。

MOS管损坏多因电压应力、热管理不足及开关过程中的高频冲击，需优化选型、驱动及保护措施以提升稳定性。

MOS管替代二极管实现防倒灌，降低压降、提升效率，提升电子系统可靠性。

N+PMOS方案通过简化驱动电路、提升集成度，有效提升无线充电效率与兼容性。

永源微AP10G02LI凭借低导通电阻和高电流承载能力，推动无线充电技术高效稳定发展。

MOS管发热主要因PWM开关过程中的过渡损耗，需优化驱动信号以减少功耗。

MOS管选型需考虑耐压、导通电阻及栅极门槛电压，以确保电池系统安全高效运行。